Design of a built-in multi-mode ICs tester with higher testability features—a most suitable testing tool for BIST environment
Afaq Ahmad*, Amer H. Al-Habsi
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء
4
اقتباسات
(Scopus)