اللغة الأصلية | English |
---|---|
الصفحات (من إلى) | 710-717 |
عدد الصفحات | 8 |
دورية | Oriental journal of computer science and technology |
مستوى الصوت | 10 |
رقم الإصدار | 4 |
المعرِّفات الرقمية للأشياء | |
حالة النشر | Published - 2017 |
What Causes to Tune a Condition of Exactly Identical Fault-Masks Behaviors in an LFSR based BIST Methodology
Afaq Ahmad, Dawood Al-Abri, Sameer Al-Busaidi, Mohammed M. Bait-Suwailam
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء