SIC-TPG for path delay fault detection in VLSI circuits using scan insertion method

Sabir Hussain, M. A. Raheem, Afaq Ahmad

نتاج البحث: Paper › مراجعة النظراء

اللغة الأصلية	English
المعرِّفات الرقمية للأشياء	https://doi.org/https://ieeexplore.ieee.org/document/9455859
حالة النشر	Published - مايو 2021

الوصول إلى المستند